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刻蚀气体 |
O2, N2 |
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等离子体清洁气体 |
O2, SF6 |
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晶片尺寸 |
· ICP380: 最大200mm晶片 · ICP180: 最大100mm晶片 |
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刻蚀速率 |
>1µm/min |
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均匀性 |
< ± 5% (7mm剔除边缘) |
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重复性 |
< ± 3 % (不同批次) |
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聚酰亚胺刻蚀速率 |
>800nm/min (平均) |
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均匀性 |
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晶片内部 |
< ± 6%(只对第一层,剔除边缘7mm) |
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不同批次 |
< ± 6% |
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对SiNx的刻蚀选择比 |
>5:1 |
工艺特点: