• 在TiN中刻蚀出90nm宽线条• 刻蚀速率大于100纳米/分钟(感应耦合等离子体刻蚀)• 选择比:TiN:HSQ = 2-3.5:1• 对栅极氧化物具有很高的选择比(最高80:1),因而可以过刻蚀• 在150mm直径范围内均匀性公差小于± 3 %• Cl/Br基的工艺气体
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