EBSD探头系统

EBSD探头系统

EBSD系统中最关键的一步是采集到高质量的背散射衍射花样。有时候系统的采集速度是最重要的,但某些时候数据的准确性则更为重要。针对不同的需求,Nordlys系列产品向您提供不同的配置满足不同工作的要求。

  • NordlysS—高灵敏度探头
  • NordlysF—高速度探头
  • 前置背散射探头(FSD)

探头的最优化设计

  • 独特的矩形荧光屏设计,与矩形CCD的完美匹配
  • 前锥形设计,最大限度的靠近样品而不影响其他探头

 

系统的优势

  • 优异的空间分辨率
  • 优异的角分辨率
  • EBSD与EDS的完美结合
  • 精密的探头自动收缩控制
  • 独特的前置背散射探头配置

 

NordlysS探头系统

  • 与几乎所有的SEM兼容
  • 12-bit数字CCD相机
  • CCD芯片速度20MHz
  • 相机分辨率:1344X1024像素,100%的利用率
  • 可达8X8Bining技术适合高速数据采集
  • 标定速度高达106Hz
  • 采集软件的动态信号增强技术
  • 探头位置的自动收缩控制,精度高达0.1mm
  • 灵敏的探头防撞设计,碰撞警报并自动退出
  • 矩形的荧光屏设计,与矩形的CCD完全匹配
  • 前锥形探头设计,更靠近样品而不影响其他探头
  • 花样采集角度15-130°连续可变而无需聚焦
  • 灵活的前置背散射探头(FSD),可输出取向衬度和质量衬度图像

秉承了NordlysII探头高速高灵敏的优势,NordlysF+的标定速度超过600Hz(点/秒)。

NordlysF+高达600Hz以上的标定速度是动态EBSD分析的最佳选择,同时内置的红外滤波涂层更适合原位加热研究。

SEM的束流为12nA时,在测试样品98%的标定率下,NordlysF+的速度可达600Hz。

不同于常规的EBSD探头,在进行加热样品的原位观察时NordlysF+不需要更换荧光屏。探头表面的镀膜能够有效的虑掉红外辐射而对EBSD花样没有任何影响,这不同于其他的镀铝探头。

前置背散射探头可以有效的提供样品晶粒取向及成分的定性信息。前置背散射图像不仅可以快速的得到晶体微观组织的信息,而且能够揭示更多的细节,如位错的应变场或晶粒内的变形等。

高达6个FSD探头位置,可以满足不同的配置需要。荧光屏上边的两个探头提供原子序数的衬度像,如下面左图所示。荧光屏下边与侧边的探头提供晶体取向的衬度像,如下面的右图所示。每个FSD探头都可以单独使用或随意更换,以满足各种观察的需要。

 

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