EBSD系统中最关键的一步是采集到高质量的背散射衍射花样。有时候系统的采集速度是最重要的,但某些时候数据的准确性则更为重要。针对不同的需求,Nordlys系列产品向您提供不同的配置满足不同工作的要求。
探头的最优化设计
系统的优势
NordlysS探头系统
秉承了NordlysII探头高速高灵敏的优势,NordlysF+的标定速度超过600Hz(点/秒)。
NordlysF+高达600Hz以上的标定速度是动态EBSD分析的最佳选择,同时内置的红外滤波涂层更适合原位加热研究。
SEM的束流为12nA时,在测试样品98%的标定率下,NordlysF+的速度可达600Hz。
不同于常规的EBSD探头,在进行加热样品的原位观察时NordlysF+不需要更换荧光屏。探头表面的镀膜能够有效的虑掉红外辐射而对EBSD花样没有任何影响,这不同于其他的镀铝探头。
前置背散射探头可以有效的提供样品晶粒取向及成分的定性信息。前置背散射图像不仅可以快速的得到晶体微观组织的信息,而且能够揭示更多的细节,如位错的应变场或晶粒内的变形等。
高达6个FSD探头位置,可以满足不同的配置需要。荧光屏上边的两个探头提供原子序数的衬度像,如下面左图所示。荧光屏下边与侧边的探头提供晶体取向的衬度像,如下面的右图所示。每个FSD探头都可以单独使用或随意更换,以满足各种观察的需要。
