X 射线荧光 (XRF) 光谱仪：CMI900, X-Strata960 和 X-Strata980 可用于测量电镀、涂料、薄膜的镀层厚度和材料成份，涵盖了从钛到铀的多种元素。

牛津仪器 (Oxford Instruments) 的高品质仪器为苛刻的厚度测量应用提供了可靠的设计性能。可对五层镀层（含基材）和 15 种元素的样品进行测量，并附带常见元素校正功能。测量方法符合 ISO3497、美国 ASTMB568 和德国 DIN50987 标准。

除高性能的 X 射线荧光系统外，牛津仪器 (Oxford Instruments) 还提供手持式电导率、磁性和涡流测厚仪。这些测量仪器是专为进行准确、高效和非破坏性涂层和电镀层厚度测量而设计的。牛津仪器 (Oxford Instruments) 的涂层测厚仪在综合平衡科技和了解客户需求基础上提供准确的量身定做的测量，测量包括粉末涂料、电镀、阳极氧化、化学镀镍和镀锌。对于各行各业的各种应用，我们的简便易用而精确的仪器甚至可在恶劣的环境中进行测量。

所有牛津仪器 (Oxford Instruments) 的产品均享受世界一流的售后服务。我们的经验保证我们能为您在售前和售后提供完整的客户支持服务。